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张宜旭 (张宜旭.) | 唐亮 (唐亮.) | 唐焱 (唐焱.) | 徐晋勇 (徐晋勇.) | 屠金磊 (屠金磊.) | 张跃飞 (张跃飞.)

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Abstract:

针对现有材料表面镀膜装置缺乏表面质量监控和反馈系统,研制出一套基于激光微悬臂梁的纳米薄膜生长厚度检测系统.该平台由微悬臂梁、激光发射单元、压电陶瓷单元、光电探测器单元、伺服电机和人机界面组成.将检测结果反馈给镀膜系统,及时调整镀膜工艺参数,实现快速表征、精准镀膜.实验表明:该纳米薄膜生长厚度检测平台能够在镀膜过程中实时监控薄膜厚度,精度可达±3 nm.

Keyword:

扫描探针 原位检测 微悬臂梁 压电陶瓷

Author Community:

  • [ 1 ] [张宜旭]桂林电子科技大学 机电工程学院,广西 桂林541004;北京工业大学 固体微结构与性能研究所,北京100124
  • [ 2 ] [唐亮]桂林电子科技大学 机电工程学院,广西 桂林541004;北京工业大学 固体微结构与性能研究所,北京100124
  • [ 3 ] [唐焱]桂林电子科技大学
  • [ 4 ] [徐晋勇]桂林电子科技大学
  • [ 5 ] [屠金磊]北京工业大学
  • [ 6 ] [张跃飞]北京工业大学

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Source :

电子显微学报

ISSN: 1000-6281

Year: 2020

Issue: 2

Volume: 39

Page: 106-111

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