以单相多晶Cu1+x　Al1-x　O2陶瓷做靶材,采用射频磁控溅射方法在石英衬底上沉积了Cu过量的Cu1+x　Al1-x　O2(0≤x≤0.04)薄膜.通过X射线衍射(XRD)、紫外吸收光谱以及电导率的测试,表征了不同含Cu量Cu1+x　Al1-x　O2薄膜的结构与光电性能.结果表明,沉积态薄膜经退火处理后,由非晶转变为具有铜铁矿结构的纯相Cu1+x　Al1-x　O2;退火态薄膜在可见光区域的平均透过率约为55％,平均可见光透过率不受Cu含量的影响;退火态薄膜样品的室温电导率随Cu含量的增加而增大,Cu1.04　Al0.96　O2的室温电导率最高,为1.22×10-2　S/cm;在近室温区(200～300　K),退火态薄膜均很好地符合Arrhenius热激活模式.