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雷珺 (雷珺.) | 郭伟玲 (郭伟玲.) | 李松宇 (李松宇.) | 谭祖雄 (谭祖雄.)

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Abstract:

对LED进行应力加速老化实验及分析可以对器件可靠性做出最快、最有效的评估.本文将相同的6V高压功率白光LED分为两组,一组施加180 mA电流应力和85℃温度应力进行高温老化实验,另一组施加180 mA电流应力、85℃高温和85%相对湿度进行高温高湿老化实验.在老化过程中,测试了LED光电参数随老化时间的变化规律.实验结果表明:高温大电流应力下的样品的光退化幅度为0.9%~3.4%,高温高湿大电流应力下的样品的光退化幅度为25.4%~ 27.8%,高温高湿下样品的老化程度远高于高温老化下样品的老化程度,湿度对LED可靠性有显著的影响.退化的原因包括荧光粉的退化和器件内部欧姆接触退化等.

Keyword:

白光LED 光衰 光通量 老化

Author Community:

  • [ 1 ] [雷珺]北京工业大学
  • [ 2 ] [郭伟玲]北京工业大学
  • [ 3 ] [李松宇]北京工业大学
  • [ 4 ] [谭祖雄]北京工业大学

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Source :

发光学报

ISSN: 1000-7032

Year: 2016

Issue: 7

Volume: 37

Page: 804-808

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