Indexed by：
Abstract：
随着集成电路设计技术的发展和芯片集成度的提高，验证已经成为芯片设计流程中的主要瓶颈。本文设计了一个基于FPGA的智能卡验证平台，并对验证方法做了详细阐述。本文对于双界面智能卡芯片验证的成功实践，不仅是对FPGA验证理论的证实，而且验证的思路和方法对其他芯片有一定的指导意义。
Keyword：
Reprint Author's Address：
Email：
Source ：
单片机与嵌入式系统应用
ISSN： 1009-623X
Year： 2014
Issue： 6
Page： 11-13,17
Cited Count：
WoS CC Cited Count： 0
SCOPUS Cited Count：
ESI Highly Cited Papers on the List： 0 Unfold All
WanFang Cited Count： -1
Chinese Cited Count：
30 Days PV： 3
Affiliated Colleges：
