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本文将根据实际芯片量产时机台测试环境来搭建基于FPGA的DFT验证平台具体解决方案,来解决芯片量产ATE设备进行测试所带来的一些弊端,帮助测试人员在实验室进行相应的DFT测试.
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中国集成电路
ISSN： 1681-5289
Year： 2014
Issue： 3
Volume： 23
Page： 22-24,43
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