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魏晓林 (魏晓林.) | 陈元平 (陈元平.) | 王如志 (王如志.) (Scholars:王如志) | 钟建新 (钟建新.)

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CQVIP PKU CSCD

Abstract:

本文系统地研究了不同形状(三方、四方及六方)的孔缺陷对锯齿形石墨烯纳米条带电学特性的影响.结果表明:孔缺陷形状对于石墨烯纳米条带的电导及电流特性影响显著,其可能源于不同形状的孔缺陷边界对于电子散射的不同;另外,当缺陷悬挂吸附氢或氮原子,将引起孔缺陷形状改变,因此不同孔缺陷吸附对于石墨烯纳米条带的电学特性的影响也各不相同.本研究将为石墨烯基电子器件失效分析及石墨烯孔结构器件设计提供有价值的理论指导.

Keyword:

石墨烯 电学特性 孔缺陷

Author Community:

  • [ 1 ] 湘潭大学量子工程与微纳能源技术湖南省重点实验室
  • [ 2 ] 北京工业大学材料学院薄膜实验室

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物理学报

Year: 2013

Issue: 05

Volume: 62

Page: 364-368

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