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介绍了发光二极管(LED)的发展简史.提出可能影响LED可靠性的几种因素,主要有封装中的散热问题和LED本身材料缺陷.对于LED可靠性,主要方法是通过测试其寿命来分析其可靠性,一般采取加速实验的方法来测试推导LED寿命.介绍了根据加速应力(主要分为单一加速应力和复合加速应力2种)评价LED寿命的测试方法.在不同加速试验应力条件下测试了大功率LED可靠性,并建立了LED寿命的几种数学模型.最后根据具体实例,通过选择加速应力和试验方法,给出具体推导LED寿命的数学公式.
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应用光学
ISSN： 1002-2082
Year： 2008
Issue： 4
Volume： 29
Page： 533-536,561
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