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石磊 (石磊.) | 吴武臣 (吴武臣.)

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目前在科技研究,工业生产等各行业中,对于位移角度的高精度测量都是不可或缺的.利用光栅传感器完成测量是目前的主要方法.光栅传感器利用光电转换的原理将位移、角度等几何量转换为电信号,该信号经过整形、细分后输出给后级电路完成对信号的处理,最后得到位移、角度的大小方向.本文在分析光栅传感器工作原理的基础上,提出借助CMOS图像传感器代替传统的硅光电池检测莫尔条纹,完成信号的细分,实现对位移角度的高精度测量.

Keyword:

细分 测量 CMOS图像传感器 光栅传感器

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  • [ 1 ] [石磊]北京工业大学
  • [ 2 ] [吴武臣]北京工业大学

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安阳工学院学报

ISSN: 1673-2928

Year: 2007

Issue: 1

Page: 28-31

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