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Indexed by:

PKU CSCD

Abstract:

从发射极条宽、发射极条长、基极条数、发射极与基极间距四个方面分析了横向尺寸变化对SiGe HBT高频噪声的影响。结果表明增加发射极条长、基极条数和减小发射极与基极间距可以较为有效地减小晶体管噪声,而减小发射极与基极间距对噪声的改善效果比较显著。发射极与基极间距从1μm减小到0.5μm,2GHz工作频率下最小噪声系数可减小9dB,在0.5GHz工作频率下最小噪声系数可降至1.5dB,2GHz工作频率下最小噪声系数为3dB。

Keyword:

HBT 横向尺寸 SiGe 高频噪声

Author Community:

  • [ 1 ] 北京工业大学电控学院
  • [ 2 ] 模拟集成电路国家重点实验室
  • [ 3 ] 模拟集成电路国家重点实验室 北京100022
  • [ 4 ] 北京100022
  • [ 5 ] 重庆400060

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Source :

功能材料与器件学报

Year: 2007

Issue: 05

Page: 495-498

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