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张小玲 (张小玲.) | 谢雪松 (谢雪松.) | 吕长治 (吕长治.) | 李岩 (李岩.) | 李鹏 (李鹏.) | 冯士维 (冯士维.) (Scholars:冯士维) | 李志国 (李志国.)

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研究了AlGaN/GaN HEMT器件在室温、100℃、200℃和300℃下的工作性能.当栅长为1μm时,器件的最大漏源电流和非本征跨导在室温下的数值为1.02A/mm和230mS/mm.温度升高到100℃时几乎没有变化,温度升高到300℃时,最大漏源电流和跨导分别下降到0.69 A/mm和118.25mS/mm,下降的百分比分别为:67.6%和51.4%.

Keyword:

氮化镓 高温性能 高电子迁移率器件

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Source :

微电子学与计算机

ISSN: 1000-7180

Year: 2004

Issue: 7

Volume: 21

Page: 171-172,176

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