Abstract：
基于多角度动态光散射法，采用齿轮转动装置选取角度并进行精确的颗粒粒度测量，进而用正则化方法分析角度校准噪声在纳米颗粒粒径测量中的影响。
Keyword：
Reprint Author's Address：
Email：
Source ：
Year： 2013
Page： 252-253
Language： Chinese
Cited Count：
WoS CC Cited Count： 0
SCOPUS Cited Count：
ESI Highly Cited Papers on the List： 0 Unfold All
WanFang Cited Count： -1
Chinese Cited Count：
30 Days PV： 0
Affiliated Colleges：
