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任杰 (任杰.) | 王乙舒 (王乙舒.) | 周炜 (周炜.) | 王晓露 (王晓露.) | 郭福 (郭福.)

Abstract:

智能汽车的高集成化发展,使得组装焊点尺寸减小,对焊点抗电迁移服役可靠性的要求提高.目前用于汽车电子的三元系焊料SnAgCu无法满足日益严苛的服役环境,而多元合金化焊料是最有潜力的解决方案之一.通过差示扫描量热法、润湿性实验以及电子背散射衍射仪、扫描电子显微镜、能谱仪等表征手段,系统研究了添加Ni、Sb、Bi元素对SnAgCu焊料的焊接性能和电迁移可靠性的影响.结果表明:添加Ni、Sb、Bi元素降低了SnAgCu焊料的熔点和过冷度,改善了焊料的润湿性.在高电流密度载荷作用下,这些元素的引入可以有效地缓解焊点电迁移行为,进而提高焊点的服役可靠性.

Keyword:

多元合金焊料 可靠性 电迁移 IMC

Author Community:

  • [ 1 ] [任杰]北京工业大学
  • [ 2 ] [王乙舒]北京工业大学
  • [ 3 ] [郭福]北京工业大学
  • [ 4 ] [周炜]北京工业大学
  • [ 5 ] [王晓露]北京工业大学

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Source :

电子元件与材料

ISSN: 1001-2028

Year: 2022

Issue: 6

Volume: 41

Page: 641-647,654

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