Indexed by：
Abstract：
本发明公开一种基于双核t分布随机近邻嵌入的过程监测可视化方法。包括离线建模和在线监测两个步骤。离线建模利用标准t‑SNE方法对历史正常数据降维；计算输入核矩阵到特征核矩阵的映射参数矩阵；利用PCA将特征核矩阵降至两维，然后计算平方马氏距离作为统计量并求控制限。在线监测计算采集到的数据与建模数据之间的核函数；将得到的核向量与映射参数矩阵相乘获得映射后的特征核向量；利用PCA对映射后的特征核向量降维，得到用于可视化的二维特征；绘制特征的散点图并观察是否在椭圆控制限范围内。相比于现有技术，本发明保留标准t‑SNE方法数据降维优势的同时，将其应用于工业过程故障监测可视化，降低了工业过程监测的误报和漏报率。
Keyword：
Reprint Author's Address：
Email：
Patent Info ：
Type： 发明授权
Patent No.： CN202010550245.7
Filing Date： 2020-06-16
Publication Date： 2023-03-31
Pub. No.： CN111796576B
Applicants： 北京工业大学
Legal Status： 授权
Cited Count：
WoS CC Cited Count： 0
SCOPUS Cited Count：
ESI Highly Cited Papers on the List： 0 Unfold All
WanFang Cited Count：
Chinese Cited Count：
30 Days PV： 0
Affiliated Colleges：
