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张宜旭 (张宜旭.) | 唐亮 (唐亮.) | 唐焱 (唐焱.) | 徐晋勇 (徐晋勇.) | 屠金磊 (屠金磊.) | 张跃飞 (张跃飞.) (学者:张跃飞)

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摘要:

针对现有材料表面镀膜装置缺乏表面质量监控和反馈系统,研制出一套基于激光微悬臂梁的纳米薄膜生长厚度检测系统。该平台由微悬臂梁、激光发射单元、压电陶瓷单元、光电探测器单元、伺服电机和人机界面组成。将检测结果反馈给镀膜系统,及时调整镀膜工艺参数,实现快速表征、精准镀膜。实验表明:该纳米薄膜生长厚度检测平台能够在镀膜过程中实时监控薄膜厚度,精度可达±3 nm。

关键词:

压电陶瓷 原位检测 微悬臂梁 扫描探针

作者机构:

  • [ 1 ] 桂林电子科技大学机电工程学院
  • [ 2 ] 北京工业大学固体微结构与性能研究所

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来源 :

电子显微学报

年份: 2020

期: 02

卷: 39

页码: 106-111

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