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孙正阳 (孙正阳.) | 季凌飞 (季凌飞.) (学者:季凌飞) | 林真源 (林真源.) | 张彤 (张彤.) | 许园波 (许园波.) | 张犁天 (张犁天.)

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摘要:

采用KrF准分子激光辐照4H-SiC制备石墨烯层,从4H-SiC晶面取向对石墨烯生长质量影响的角度开展研究工作,分析激光能量密度、脉冲数及晶面取向对石墨烯质量的影响。当激光能量密度为1.06 J/cm~2,脉冲数为8000时,4H-SiC样品极性Si(0001)面和非极性■面上生长的石墨烯质量均达到最好。石墨烯与4H-SiC衬底极性Si(0001)面之间存在缓冲层,为石墨烯的生长提供了模板,得到的石墨烯更为有序,缺陷态更少;而非极性■面上生成的石墨烯与衬底之间未生成缓冲层,生长的石墨烯层较为无序,对激光参数的变化更为敏感。

关键词:

4H-SiC 晶面指数 材料 激光辐照 石墨烯

作者机构:

  • [ 1 ] 北京工业大学材料与制造学部激光工程研究院
  • [ 2 ] 跨尺度激光成型制造技术教育部重点实验室

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来源 :

中国激光

年份: 2020

期: 08

卷: 47

页码: 52-60

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