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[期刊论文]
GAGG∶Ce闪烁晶体的缺陷研究
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通过提拉法生长了掺铈钆镓铝石榴子石结构闪烁晶体(简称GAGG∶Ce),采用扫描电镜、金相显微镜、能谱仪等手段观察和分析了晶体中容易出现的枝晶、位错、偏析、裂纹等缺陷。提出了产生缺陷的主要原因有引晶过程中的热冲击、籽晶位错的引入、提拉旋转速度以及降温工艺等因素产生的内应力。探讨了降低或控制GAGG∶Ce闪烁晶体中缺陷出现的方法。
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来源 ：
中国非金属矿工业导刊
年份： 2019
期： 04
页码： 16-19
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