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高辛未 (高辛未.) | 张硕晨 (张硕晨.) | 黄珊 (黄珊.) | 朱书缘 (朱书缘.) | 冯继宏 (冯继宏.)

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摘要:

由于光学衍射的限制,传统光学显微镜只能看到免疫突触(immunological synapse,IS)(>200 nm)的轮廓,因此在观察嵌合抗原受体(chimeric antigen receptor,CAR)修饰的自然杀伤(native killer,NK)细胞靶向杀伤肿瘤细胞时,NK细胞的IS形成过程中会丢掉很多信息.受激发射损耗(stimulated emission depletion,STED)显微镜的出现为IS的研究提供了有力工具.本文概述了STED超分辨成像技术的基本原理,分析了成像过程中的技术难点,介绍了在IS领域中与STED成像技术结合使用的荧光探针、生物芯片的研究新进展,探讨并展望了STED超分辨显微技术在IS研究领域的意义和未来发展方向.

关键词:

免疫突触 受激发射损耗显微镜 生物芯片 自然杀伤细胞 荧光探针

作者机构:

  • [ 1 ] [高辛未]北京工业大学
  • [ 2 ] [张硕晨]北京工业大学
  • [ 3 ] [黄珊]北京工业大学
  • [ 4 ] [朱书缘]北京工业大学
  • [ 5 ] [冯继宏]北京工业大学

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来源 :

北京生物医学工程

ISSN: 1002-3208

年份: 2019

期: 5

卷: 38

页码: 530-534

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