• 综合
  • 标题
  • 关键词
  • 摘要
  • 学者
  • 期刊-刊名
  • 期刊-ISSN
  • 会议名称
搜索

作者:

何宝凤 (何宝凤.) | 丁思源 (丁思源.) | 魏翠娥 (魏翠娥.) | 刘柄显 (刘柄显.) | 石照耀 (石照耀.)

收录:

EI Scopus PKU CSCD

摘要:

表面粗糙度测量是评估零件表面特性的重要手段.经过二十多年的发展,三维表面粗糙度逐渐成为反映工件表面特性的重要指标.本文总结并比较了接触式测量法、非接触式测量法和纳米表面粗糙度分析法中常用三维表面粗糙度的测量原理及特点.针对每种测量方法的发展现状,本文讨论了其适用范围及局限性,并指出了未来的发展方向.

关键词:

非接触式测量 三维表面粗糙度 测量方法 接触式测量 纳米表面粗糙度分析

作者机构:

  • [ 1 ] [何宝凤]北京工业大学
  • [ 2 ] [丁思源]北京工业大学
  • [ 3 ] [魏翠娥]北京工业大学
  • [ 4 ] [刘柄显]北京工业大学
  • [ 5 ] [石照耀]北京工业大学

通讯作者信息:

电子邮件地址:

查看成果更多字段

相关关键词:

来源 :

光学精密工程

ISSN: 1004-924X

年份: 2019

期: 1

卷: 27

页码: 78-93

被引次数:

WoS核心集被引频次:

SCOPUS被引频次: 31

ESI高被引论文在榜: 0 展开所有

万方被引频次: 15

中文被引频次:

近30日浏览量: 0

归属院系:

在线人数/总访问数:539/5054891
地址:北京工业大学图书馆(北京市朝阳区平乐园100号 邮编:100124) 联系我们:010-67392185
版权所有:北京工业大学图书馆 站点建设与维护:北京爱琴海乐之技术有限公司