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胡莉婷 (胡莉婷.) | 季凌飞 (季凌飞.) (学者:季凌飞) | 吴燕 (吴燕.) | 林真源 (林真源.)

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摘要:

通过激光辐照固态Al膜,制备了一种p型重掺杂4H-SiC,分析了Al膜厚度、激光脉冲个数对掺杂结果的影响,验证了不同工艺参数对p型掺杂层表面电学性能的调控作用。结果表明,当Al膜厚度为120nm,脉冲个数为50时,掺杂试样的最大载流子浓度为6.613×10~(17) cm~(-3),最小体电阻率为17.36Ω·cm,掺杂浓度(粒子数浓度)可达6.6×10~(19) cm~(-3)。4H-SiC的Al掺杂改性机理为:在紫外激光作用下,Si—C键断裂,Al原子替代Si原子形成p型掺杂层。

关键词:

Al掺杂 准分子激光 半绝缘4H-SiC 薄膜

作者机构:

  • [ 1 ] 北京工业大学激光工程研究院

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来源 :

中国激光

年份: 2018

期: 06

卷: 45

页码: 104-111

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