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张改梅 (张改梅.) | 王灿 (王灿.) | 宋晓利 (宋晓利.) | 何存富 (何存富.) (学者:何存富) | 陈强 (陈强.)

收录:

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摘要:

纳米级多孔氧化硅薄膜介电常数低,和铝复合后可以大大降低电阻损耗,是最有希望的新一代低介电材料。在纳电子器中低介电薄膜孔隙率及孔尺寸可以控制其机械性能。薄膜的弹性模量是器件设计的必需参数,然而传统方法很难在纳米尺度表征弹性模量。采用等离子体增强化学气相沉积法,以六甲基二硅氧烷为单体,氧气作为反应气体,再加入少量的有机物质在玻璃基材上沉积纳米厚度的氧化硅薄膜,再进行热处理使氧化硅薄膜中的有机成分挥发形成孔隙(以下称纳米多孔氧化硅薄膜),从而降低薄膜介电常数。结果表明氧化硅薄膜的折射率热处理后得到减小,当放电功率为100 W时,氧气与单体的比例为1∶4时,放电时间10 min沉积的薄膜热处理后的纳米...

关键词:

参考法 弹性模量 纳米多孔氧化硅薄膜 等离子体增强化学气相沉积 超声原子力显微镜

作者机构:

  • [ 1 ] 北京印刷学院印刷与包装工程学院
  • [ 2 ] 北京工业大学机械工程与应用电子技术学院

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来源 :

机械工程学报

年份: 2018

期: 12

卷: 54

页码: 109-114

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