随着无损检测技术的发展,检测装置的技术含量和复杂程度日益提高,传感器阵列得到越来越广泛的应用,随之而来的虚警问题成为阻碍无损检测技术发展的一个重要问题.一方面,过高的虚警率(false　alarm　rate,FAR)会使人们对传感器阵列检测系统产生的数据结果失去信任,这就削弱了检测的意义.另一方面,只注重虚警率的影响,则可能造成漏检情况.因此,进行基于降虚警技术的传感器阵列优化研究迫在眉睫.旨在通过实验、仿真传感阵列布置问题的研究,达成优化虚警率的目的,并最终证明降虚警技术对于传感器阵列优化具有指导意义.