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侯立刚 (侯立刚.) | 杨扬 (杨扬.) | 叶彤旸 (叶彤旸.) | 彭晓宏 (彭晓宏.) | 耿淑琴 (耿淑琴.)

收录:

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摘要:

提出一种与2D物理设计流程兼容的3D测试基准电路生成系统,并以IBM-PLACE测试基准电路为测试试例做了转换实验,提供一套3D测试基准电路。通过此系统,可以根据输入文件的不同,自动转换为对应的Bookshelf库文件或者DEF库文件,实现物理设计库中的电路的互联线网连接信息,标准单元尺寸、端口信息,标准单元坐标信息以及布局信息自动转换。可以将任意2D电路设计转换为3D测试基准电路,并且兼容2D集成电路的物理设计流程,可在传统物理设计EDA工具中布局布线。最终,可以实现自定制的3D测试基准电路。

关键词:

3D集成电路 Bookshelf库 DEF库 测试基准电路 自定制

作者机构:

  • [ 1 ] 北京工业大学电子信息与控制工程学院

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来源 :

现代电子技术

年份: 2017

期: 24

卷: 40

页码: 5-8

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