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李扬 (李扬.) | 李晓延 (李晓延.) | 姚鹏 (姚鹏.) | 梁晓波 (梁晓波.)

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摘要:

从老化过程的界面作用和Cu/Sn/Cu界面元素扩散行为等方面,综述了国内外研究动态与进展.随后,着重介绍了老化过程Sn基钎料和Cu基板的界面反应和柯肯达尔孔洞形成的影响因素,并且柯肯达尔孔洞的形成与界面组分元素的扩散直接相关.最后指出了Cu/Sn/Cu焊点扩散行为研究中存在的问题,提出采用实验与分子动力学模拟相结合的方法开展研究,为以后界面元素扩散的研究起到启发作用.

关键词:

Cu/Sn/Cu 扩散行为 柯肯达尔孔洞 焊点 界面反应 综述

作者机构:

  • [ 1 ] [李扬]北京工业大学
  • [ 2 ] [李晓延]北京工业大学
  • [ 3 ] [姚鹏]北京工业大学
  • [ 4 ] [梁晓波]北京工业大学

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来源 :

电子元件与材料

ISSN: 1001-2028

年份: 2017

期: 7

卷: 36

页码: 17-22

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