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王杨 (王杨.) | 张忻 (张忻.) | 张久兴 (张久兴.) | 刘洪亮 (刘洪亮.) | 江浩 (江浩.) | 李录录 (李录录.)

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摘要:

以三元稀土硼化物Ce1-xGdxB6为研究对象,系统研究Gd掺杂对CeB6阴极材料热发射性能的影响规律.采用放电等离子烧结结合光学区域熔炼法成功制备了高质量的Ce1-xGdxB6(x=0~0.3)单晶体.借助360度Phi扫描单晶衍射仪对生长后的单晶进行了测试,结果显示单晶质量良好.采用劳埃定向仪确定出(100)晶面,并测试了该晶面在1673 K、1773 K、1873 K下的热电子发射电流密度.测试结果表明,Ce0.9Gd0.1B6成分单晶体具有最优异的热发射性能,在1873K工作温度下,4000 V电压条件下发射电流密度达到82.3 A/cm2,零场电流发射密度为24.70A/cm2,平均有效逸出功为2.30 eV,与相同条件下CeB6单晶体热发射性能(热发射电流密度为78.2 A/cm2,零场电流发射密度为13.32 AJcm2)相比,其具有更大的发射电流密度和更低的逸出功.因此,采用该制备技术获得的Ce1-xGdxB6单晶体具有良好的发射性能,作为热阴极材料将会有更好的应用前景.

关键词:

Ce1-xGdxB6单晶体 热发射性能 光学区域熔炼法

作者机构:

  • [ 1 ] [王杨]北京工业大学
  • [ 2 ] [张忻]北京工业大学
  • [ 3 ] [张久兴]北京工业大学
  • [ 4 ] [刘洪亮]北京工业大学
  • [ 5 ] [江浩]北京工业大学
  • [ 6 ] [李录录]北京工业大学

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来源 :

无机材料学报

ISSN: 1000-324X

年份: 2016

期: 8

卷: 31

页码: 797-801

1 . 7 0 0

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