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作者：

王影 (王影.) | 朱满康 (朱满康.) | 马丙闯 (马丙闯.) | 侯育冬 (侯育冬.) (学者：侯育冬) | 程蕾 (程蕾.) | 赵军 (赵军.)

收录：

CQVIP PKU CSCD

摘要：

采用固相合成法制备CuAl1-xCrxO2陶瓷.通过XRD、XPS、电学阻抗谱和Hall效应等测试方法对陶瓷的物相结构、元素价态、电学性能等进行了研究.结果表明:所制备的样品的主要相组成是CuAlO2和Cu2O,同时,也有少量Cu2+存在.样品的电导率随Cr掺量的增加显示先增加(x=0～0.02)后减小(x=0.02　～0.05)的趋势,其影响因素包括Cu离子价态和载流子迁移率.

关键词：

XPS CuAlO2 阻抗谱 霍尔效应

作者机构：

  • [ 1 ] [王影]北京工业大学
  • [ 2 ] [朱满康]北京工业大学
  • [ 3 ] [马丙闯]北京工业大学
  • [ 4 ] [侯育冬]北京工业大学
  • [ 5 ] [程蕾]天津航空机电有限公司
  • [ 6 ] [赵军]天津航空机电有限公司

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来源 ：

人工晶体学报

ISSN： 1000-985X

年份： 2016

期： 7

卷： 45

页码： 1746-1750

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