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谢立林 (谢立林.) | 赵慧 (赵慧.) | 张晓娜 (张晓娜.) | 汪友 (汪友.) | 张泽 (张泽.)

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摘要:

本文通过热氧化法制备了CuO纳米线,利用X射线衍射和扫描电子显微镜,研究了温度和冷却方式对CuO纳米线生长的影响。600℃空冷样品只长出了少量CuO纳米线,600℃炉冷样品上观察到了大量CuO纳米线,400℃空冷样品上也生长了大量CuO纳米线,表明CuO纳米线的实际生长温度不高于400℃。温度比较高时,以CuO层的生长为主;在温度比较低时,以CuO纳米线的生长为主。这一结果可以通过铜离子在氧化层中的扩散过程来理解。

关键词:

扩散 氧化铜纳米线 热氧化法 生长

作者机构:

  • [ 1 ] [谢立林]北京工业大学
  • [ 2 ] [赵慧]北京工业大学
  • [ 3 ] [张晓娜]北京工业大学
  • [ 4 ] [汪友]北京工业大学
  • [ 5 ] [张泽]浙江大学

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来源 :

电子显微学报

ISSN: 1000-6281

年份: 2016

期: 5

卷: 35

页码: 399-403

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