• 综合
  • 标题
  • 关键词
  • 摘要
  • 学者
  • 期刊-刊名
  • 期刊-ISSN
  • 会议名称
搜索

作者:

崔敏 (崔敏.) | 魏思婷 (魏思婷.) | 方耀辉 (方耀辉.) | 吴笑笑 (吴笑笑.) | 万欣 (万欣.) | 张兵 (张兵.) | 雷宇 (雷宇.) | 邓金祥 (邓金祥.) (学者:邓金祥)

收录:

CQVIP

摘要:

利用TH-J型PN结正向压降温度特性测试仪、USB-6009数据采集卡和LabVIEW平台,建立了基于虚拟仪器技术的新型PN结温度特性测试系统.测量了不同工作电流下PN结的正向压降随温度的变化关系,获得硅材料的禁带宽度,并分析了工作电流对PN结温度特性的影响.该实验方法、数据采集与计算机技术良好结合,弥补了手工测量带来的误差.

关键词:

LabVIEW Origin PN结温度特性 数据采集 虚拟仪器

作者机构:

  • [ 1 ] [崔敏]北京工业大学
  • [ 2 ] [魏思婷]北京工业大学
  • [ 3 ] [方耀辉]北京工业大学
  • [ 4 ] [吴笑笑]北京工业大学
  • [ 5 ] [万欣]北京工业大学
  • [ 6 ] [张兵]北京工业大学
  • [ 7 ] [雷宇]北京工业大学
  • [ 8 ] [邓金祥]北京工业大学

通讯作者信息:

电子邮件地址:

查看成果更多字段

相关关键词:

来源 :

实验技术与管理

ISSN: 1002-4956

年份: 2015

期: 5

卷: 32

页码: 138-140,164

被引次数:

WoS核心集被引频次: 0

SCOPUS被引频次:

ESI高被引论文在榜: 0 展开所有

万方被引频次: 1

中文被引频次:

近30日浏览量: 2

归属院系:

在线人数/总访问数:605/2908204
地址:北京工业大学图书馆(北京市朝阳区平乐园100号 邮编:100124) 联系我们:010-67392185
版权所有:北京工业大学图书馆 站点建设与维护:北京爱琴海乐之技术有限公司