高级检索
检索提示：高级检索多个条件检索时是按照顺序运算的：如 A或B与C 即:(A或B)与C
[期刊论文]
基于门控结构的低功耗扫描测试方案
作者：
收录：
摘要：
针对芯片测试功耗过高,严重影响芯片的良率的问题,提出了门控扫描时钟方法和门控组合逻辑方法相结合的测试方案来降低芯片测试功耗。采用该测试方案,使用Synopsys公司的DFT Compiler软件,完成了一款电力网载波通信芯片的可测性设计。结果表明,该测试方案在不降低响测试覆盖率和不增加测试时间的前提下,最终将测试功耗降低了37.3%。该测试方案能够快速有效地降低芯片测试功耗,具有广泛的应用价值。
关键词：
作者机构：
通讯作者信息：
电子邮件地址：
相关关键词：
相关文章：
2013，现代电子技术
2018，自动化与仪表
2014，微电子学
2019，微电子学
来源 ：
电子器件
年份： 2015
期： 06
卷： 38
页码： 1316-1320
被引次数：
WoS核心集被引频次： 0
SCOPUS被引频次：
ESI高被引论文在榜： 0 展开所有
万方被引频次：
中文被引频次：
近30日浏览量： 2
归属院系：
信息学部 电子科学与技术学院（微电子学院）
全文获取
外部链接：
