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庞天奇 (庞天奇.) | 邓金祥 (邓金祥.) (学者:邓金祥) | 王吉有 (王吉有.) | 陈亮 (陈亮.) | 程祎 (程祎.) | 王翀 (王翀.)

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摘要:

采用磁控溅射法在石英衬底上制备出结晶性良好的氧化锌薄膜,并在氧气气氛中不同温度(100~800℃)下进行退火处理.然后利用X射线衍射仪(XRD)、扫描电子显微镜(SEM)及椭偏仪对其结晶性能和光学性能进行了表征,探讨了退火温度对薄膜光学性能的影响,并分析其原因.研究表明:退火可以使c轴生长的薄膜取向性增强;同时晶粒尺寸增大,表明粗糙度也会增加.所测得的薄膜折射率变化范围为1.775~2.059,其中退火温度为500℃时对应相同波长的折射率最大,变化范围为1.894~2.059.

关键词:

ZnO薄膜 折射率 晶粒尺寸 磁控溅射 缺陷 退火

作者机构:

  • [ 1 ] [庞天奇]北京工业大学
  • [ 2 ] [邓金祥]北京工业大学
  • [ 3 ] [王吉有]北京工业大学
  • [ 4 ] [陈亮]北京工业大学
  • [ 5 ] [程祎]北京工业大学
  • [ 6 ] [王翀]北京工业大学

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来源 :

微纳电子技术

ISSN: 1671-4776

年份: 2015

期: 2

卷: 52

页码: 93-97

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