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吕毓达 (吕毓达.) | 谢雪松 (谢雪松.) | 张小玲 (张小玲.)

收录:

CQVIP PKU CSCD

摘要:

现在系统级芯片(SoC)系统集成度和复杂度不断提高,验证环节消耗时间占用了芯片研发时间的70%,芯片验证已经成为芯片研发中最关键的环节.目前业界验证方法大多有覆盖率低和通用性差等缺点,基于上述原因提出了一种新的验证方法.与传统验证方法和单纯的通用验证方法学(UVM)不同,该方法结合系统级芯片验证和模块级验证的特点,并且融合UVM和知识产权验证核(VIP)模块验证的验证技术,且使用了SoC系统功能仿真模型以提高验证覆盖率和准确性.验证结果表明,同一架构系列SoC芯片可以移植于该验证平台中,并且可大幅缩短平台维护与开发时间,采用该验证方法的代码覆盖率为98.9%,功能覆盖率为100%.

关键词:

CPU功能模型 系统级芯片验证 随机测试向量 系统级芯片(SoC) 通用验证方法学(UVM)

作者机构:

  • [ 1 ] [吕毓达]北京工业大学
  • [ 2 ] [谢雪松]北京工业大学
  • [ 3 ] [张小玲]北京工业大学

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来源 :

半导体技术

ISSN: 1003-353X

年份: 2015

期: 3

卷: 40

页码: 234-238

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