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[期刊论文]
瞬态大电流测量结温中校温曲线弯曲现象的研究
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利用脉宽250μs、占空比5%的0-1.5 A脉冲电流,分别在50,70,90,110,130℃条件下,对TO-247-2L封装型PIN快恢复二极管大电流下的校温曲线进行了测量分析.研究发现,恒定大电流条件下,二极管的校温曲线随温度变化发生弯曲.分析表明,弯曲现象主要是由于串联电阻受迁移率的影响随温度发生变化而引起的.通过实验测量及理论计算,得到了准确的非线性校温曲线,从而减小了瞬态大电流测量结温中的误差.
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来源 ：
物理学报
年份： 2015
期： 18
卷： 64
页码： 402-407
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