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陈博 (陈博.) | 于忠臣 (于忠臣.)

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摘要:

随着集成电路设计技术的发展和芯片集成度的提高,验证已经成为芯片设计流程中的主要瓶颈。本文设计了一个基于FPGA的智能卡验证平台,并对验证方法做了详细阐述。本文对于双界面智能卡芯片验证的成功实践,不仅是对FPGA验证理论的证实,而且验证的思路和方法对其他芯片有一定的指导意义。

关键词:

FPGA 智能卡 验证

作者机构:

  • [ 1 ] [陈博]北京工业大学
  • [ 2 ] [于忠臣]北京工业大学

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来源 :

单片机与嵌入式系统应用

ISSN: 1009-623X

年份: 2014

期: 6

页码: 11-13,17

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