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作者:

倪乐斌 (倪乐斌.) | 于忠臣 (于忠臣.)

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摘要:

本文将根据实际芯片量产时机台测试环境来搭建基于FPGA的DFT验证平台具体解决方案,来解决芯片量产ATE设备进行测试所带来的一些弊端,帮助测试人员在实验室进行相应的DFT测试.

关键词:

DFT FPGA Scan-Chain 量产测试

作者机构:

  • [ 1 ] [倪乐斌]北京工业大学
  • [ 2 ] [于忠臣]北京工业大学

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来源 :

中国集成电路

ISSN: 1681-5289

年份: 2014

期: 3

卷: 23

页码: 22-24,43

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