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王鹏鹏 (王鹏鹏.) | 张小玲 (张小玲.) | 谢雪松 (谢雪松.) | 贾旭光 (贾旭光.) | 关童童 (关童童.)

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摘要:

对于制作工艺相同的NPN和LPNP两种类型的双极型晶体管进行了辐照实验,研究了不同类型双极晶体管的电离总剂量辐射损伤机理和退火效应.实验结果表明:在相同的辐照总剂量下,LPNP型双极晶体管的归一化电流增益的下降比NPN型双极晶体管的下降多,说明LPNP型双极晶体管的辐照敏感性更强,这与NPN和LPNP这两种类型的双极晶体管的辐射损伤机理的不同有关.对于NPN型双极晶体管,电离辐照总剂量效应主要是造成氧化物正电荷的积累;而对于LPNP型双极晶体管,电离辐照总剂量效应主要是造成界面态密度的增加.

关键词:

双极晶体管 氧化物正电荷 电离总剂量效应 界面态 退火

作者机构:

  • [ 1 ] [王鹏鹏]北京工业大学
  • [ 2 ] [张小玲]北京工业大学
  • [ 3 ] [谢雪松]北京工业大学
  • [ 4 ] [贾旭光]北京工业大学
  • [ 5 ] [关童童]北京工业大学

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来源 :

电子产品可靠性与环境试验

ISSN: 1672-5468

年份: 2013

期: 6

卷: 31

页码: 17-20

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