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孙江超 (孙江超.) | 张小玲 (张小玲.) | 张彦秀 (张彦秀.) | 谢雪松 (谢雪松.) | 吕曼 (吕曼.) | 吕长志 (吕长志.)

收录:

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摘要:

选择国产三端可调正输出稳压器进行60Co-γ电离辐照实验,研究其电离总剂量效应及损伤变化规律.实验结果发现,基准电压、电压调整率、电流调整率、纹波抑制比是敏感参数,在电离辐射环境中发生明显的退化.结合电路结构,分析了敏感参数退化的原因,探讨了基准电压源和误差放大器等内部关键模块对稳压器抗辐照性能的影响.

关键词:

总剂量效应 线性稳压器 辐射损伤

作者机构:

  • [ 1 ] [孙江超]北京工业大学
  • [ 2 ] [张小玲]北京工业大学
  • [ 3 ] [张彦秀]北京燕东微电子有限公司
  • [ 4 ] [谢雪松]北京工业大学
  • [ 5 ] [吕曼]北京工业大学
  • [ 6 ] [吕长志]北京工业大学

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来源 :

微电子学

ISSN: 1004-3365

年份: 2013

期: 5

卷: 43

页码: 719-722

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