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作者:

郭伟玲 (郭伟玲.) | 樊星 (樊星.) | 崔德胜 (崔德胜.) | 吴国庆 (吴国庆.) | 俞鑫 (俞鑫.)

收录:

CQVIP PKU CSCD

摘要:

提出一种快速评价LED可靠性的有效方法。通过测试LED样品的伪失效寿命,结合Minitab软件进行数据分析,确定全部样品的伪失效寿命服从二参数的威布尔分布。通过计算威布尔分布尺度参数,比较不同样品的尺度参数来评价产品的可靠性。该方法对LED的可靠性评价和寿命预测有一定的参考价值。

关键词:

伪失效寿命 发光二极管 威布尔分布 定时截尾试验

作者机构:

  • [ 1 ] 北京工业大学光电子技术省部共建教育部重点实验室

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来源 :

发光学报

年份: 2013

期: 02

卷: 34

页码: 213-217

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