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汤云晖 (汤云晖.) | 梅燕 (梅燕.)

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摘要:

原位高温X衍射是一项应用前景广阔的实验技术.该文采用原位高温X衍射实验技术对电气石进行了25~1 000℃的细致研究,实验揭示了电气石在600℃之前后晶胞参数的变化,原因在于F2+氧化导致晶胞收缩,并精确确定电气石中的Fe2+的氧化温度为600℃、电气石脱羟温度为400℃,显示原位高温X衍射技术是一项很有价值的实验技术.此项实验技术的缺点在于kapton(聚酰亚胺)薄膜的阻隔、导致衍射强度较低,为此提出了可能的解决办法.

关键词:

X射线衍射 原位高温 电气石

作者机构:

  • [ 1 ] [汤云晖]北京工业大学
  • [ 2 ] [梅燕]北京工业大学

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来源 :

实验技术与管理

ISSN: 1002-4956

年份: 2012

期: 6

卷: 29

页码: 31-34,38

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