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周舟 (周舟.) | 冯士维 (冯士维.) | 郭春生 (郭春生.) | 张光沉 (张光沉.) | 吴艳艳 (吴艳艳.)

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摘要:

将GaN基蓝光芯片涂敷YAG荧光粉和透明硅胶制成额定功率为1W的白光发光二极管(LED),对其施加900mA的电流应力,在老化过程中测量白光LED的主要光学参数,考察其光学特性的退化情况.经过4 200 h的老化,样品光通量退化为初始值的15%~18%.样品的漏电流明显增大,表明芯片有源区缺陷密度提高,但光谱分布图中蓝光部分的辐射量未减少,仅观察到黄光部分辐射量的减少,推断出YAG荧光粉的转换效率降低.同时,从原理上分析了样品色温逐渐增大,显色指数基本不变的原因,对大功率白光LED在照明领域的应用有一定的借鉴意义.

关键词:

显色指数 光谱 发光二极管 荧光粉 色温 老化试验

作者机构:

  • [ 1 ] [周舟]北京工业大学
  • [ 2 ] [冯士维]北京工业大学
  • [ 3 ] [郭春生]北京工业大学
  • [ 4 ] [张光沉]北京工业大学
  • [ 5 ] [吴艳艳]北京工业大学

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来源 :

光谱学与光谱分析

ISSN: 1000-0593

年份: 2012

期: 10

卷: 32

页码: 2611-2614

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