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王欣欣 (王欣欣.) | 刘建萍 (刘建萍.) | 郭福 (郭福.) (学者:郭福) | 刘莉 (刘莉.) | 浮婵妮 (浮婵妮.)

收录:

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摘要:

利用高精度X射线检测设备分别对用Sn37Pb焊膏和Sn3.0Ag0.5Cu焊膏组装的高密度LED灯板进行焊后和老化后的微空洞检测,观察了焊点的微空洞缺陷,并计算微空洞尺寸。结果表明:老化前微空洞面积与焊点面积比在10%~25%的,Sn3.0Ag0.5Cu焊点中约含25.5%,略大于Sn37Pb焊点的23.5%,且明显小于Sn3.0Ag0.5Cu焊点老化后的31.4%。两种焊点老化前后微空洞所占面积比都在<25%的合格范围内,但Sn3.0Ag0.5Cu焊点更易形成微空洞。

关键词:

空洞 LED组装 X射线检测 焊点

作者机构:

  • [ 1 ] 北京工业大学材料科学与工程学院
  • [ 2 ] 北京利亚德光电股份有限公司

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来源 :

电子元件与材料

年份: 2012

期: 01

卷: 31

页码: 64-67

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