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作者:

朱秀红 (朱秀红.) | 陈光华 (陈光华.) | 郑茂盛 (郑茂盛.)

收录:

CQVIP PKU CSCD

摘要:

本文采用HWA-MWECR - CVD系统制备了微晶硅薄膜.研究了氢稀释比、反应压强以及微波功率对微晶硅薄膜非晶转微晶相变及其相关性能的影响.实验结果表明:当氢稀释比为94%、反应压强为1.5Pa以及微波功率为500W时,高质量的微晶硅薄膜可以被获得,如2.86* 104的高光敏性,1nm左右的沉积速率以及8.9%的光致衰退速率等.

关键词:

沉积速率 相变 微晶硅薄膜 光电性能 HWA-MWECR-CVD系统

作者机构:

  • [ 1 ] [朱秀红]西北大学
  • [ 2 ] [陈光华]北京工业大学
  • [ 3 ] [郑茂盛]西北大学

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来源 :

功能材料与器件学报

ISSN: 1007-4252

年份: 2012

期: 2

卷: 18

页码: 103-108

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