高级检索
检索提示:高级检索多个条件检索时是按照顺序运算的:如 A或B与C 即:(A或B)与C
[期刊论文]
IEEE 1149.4标准实验测试结构设计和扩展研究
作者:
收录:
摘要:
本文采用复杂可编程逻辑器件(CPLD)和分立器件,设计实现了IEEE 1149.4混合信号边界扫描标准实验测试结构。为了提高互连测试的故障诊断能力,文中对模拟边界模块(ABM)开关结构进行了一些修改。针对ABM单元的这些修改允许测试者可以将模拟输入信号与多个电压进行比较。当测试者在简单互连或扩展互连中遇到桥接故障,扩展的ABM开关结构使得故障更容易探测。
关键词:
作者机构:
通讯作者信息:
电子邮件地址:
相关关键词:
相关文章:
1997,微电子测试
2008,北华航天工业学院学报
2007,首都师范大学学报(自然科学版)
来源 :
电子测试
年份: 2012
期: 05
页码: 1-6
被引次数:
WoS核心集被引频次: 0
SCOPUS被引频次:
ESI高被引论文在榜: 0 展开所有
万方被引频次:
中文被引频次:
近30日浏览量: 3
归属院系:
信息学部
全文获取
外部链接: