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刘斌 (刘斌.) | 刘媛媛 (刘媛媛.) | 崔碧峰 (崔碧峰.)

收录:

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摘要:

为了提高980 nm半导体激光器的可靠性,采用氦离子注入形成腔面电流非注入区技术制作了4μm条宽的脊形波导激光器,并利用同一块外延片制作了常规工艺的4 μm脊形波导激光器作为对比.经过长期老化实验得知:常规工艺器件在1500 h前全部失效,而采取新技术的器件寿命超过了3000 h.通过对器件的扫描电镜分析发现,腔面灾变性损伤、铟焊料的质量和腔面污染等因素对器件失效有直接影响.

关键词:

半导体激光器 失效分析 扫描电镜 氦离子注入 长期老化

作者机构:

  • [ 1 ] [刘斌]中国政法大学
  • [ 2 ] [刘媛媛]中国科学院半导体研究所
  • [ 3 ] [崔碧峰]北京工业大学

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来源 :

激光与光电子学进展

ISSN: 1006-4125

年份: 2012

期: 9

卷: 49

页码: 127-131

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