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杨金丽 (杨金丽.) | 雷永平 (雷永平.) (学者:雷永平) | 林健 (林健.) | 张寒 (张寒.)

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摘要:

为了探究银含量对无铅焊点在随机振动条件下的可靠性的影响,对Sn-3.0Ag-0.5Cu、Sn-1.0Ag-0.5Cu和Sn-0.3Ag-0.7Cu三种不同Ag含量材料的焊点做窄带范围内的随机振动疲劳实验,并对失效焊点进行分析。结果表明:三种材料焊点的失效位置基本都在靠近PCB侧,最外围焊点最容易失效,失效模式均为脆性断裂,并且随着Ag含量的降低,金属间化合物的厚度逐渐减小,焊点的疲劳寿命逐渐延长。

关键词:

失效机理 无铅焊点 疲劳寿命 银含量 随机振动

作者机构:

  • [ 1 ] 北京工业大学材料科学与工程学院

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来源 :

电子元件与材料

年份: 2012

期: 09

卷: 31

页码: 40-44

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