• 综合
  • 标题
  • 关键词
  • 摘要
  • 学者
  • 期刊-刊名
  • 期刊-ISSN
  • 会议名称
搜索

作者:

唐振云 (唐振云.) | 马英杰 (马英杰.) | 毛智勇 (毛智勇.) | 雷家峰 (雷家峰.) | 刘羽寅 (刘羽寅.) | 李晋炜 (李晋炜.)

收录:

CQVIP PKU CSCD

摘要:

在光学显微镜下对TC4-DT钛合金电子束焊接头显微组织进行了分析,讨论了接头不同位置显微组织特征.比较了疲劳裂纹始于焊接接头不同位置时的宏观裂纹扩展路径及裂纹扩展速率,依据焊接接头显微组织特点讨论了显微组织对疲劳裂纹扩展行为的影响.结果表明,电子束焊接头沿熔深方向显微组织存在一定的差异;文中条件下,与母材区相比焊缝熔合区及热影响区具有较高的疲劳裂纹扩展抗力,导致裂纹扩展路径逐步偏向母材区,最后讨论了裂纹扩展路径的偏折对裂纹扩展速率的影响.

关键词:

疲劳裂纹扩展 电子束焊 接头显微组织 TC4-DT

作者机构:

  • [ 1 ] [唐振云]北京工业大学
  • [ 2 ] [马英杰]中国科学院金属研究所
  • [ 3 ] [毛智勇]中航工业北京航空制造工程研究所
  • [ 4 ] [雷家峰]中国科学院金属研究所
  • [ 5 ] [刘羽寅]中国科学院金属研究所
  • [ 6 ] [李晋炜]中航工业北京航空制造工程研究所

通讯作者信息:

电子邮件地址:

查看成果更多字段

相关关键词:

来源 :

焊接学报

ISSN: 0253-360X

年份: 2012

期: 9

卷: 33

页码: 109-112

被引次数:

WoS核心集被引频次: 0

SCOPUS被引频次:

ESI高被引论文在榜: 0 展开所有

万方被引频次: 7

中文被引频次:

近30日浏览量: 1

归属院系:

在线人数/总访问数:2018/3859016
地址:北京工业大学图书馆(北京市朝阳区平乐园100号 邮编:100124) 联系我们:010-67392185
版权所有:北京工业大学图书馆 站点建设与维护:北京爱琴海乐之技术有限公司