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周舟 (周舟.) | 冯士维 (冯士维.) | 张光沉 (张光沉.) | 郭春生 (郭春生.) | 李静婉 (李静婉.)

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摘要:

对大功率GaN基白光LED在85℃下进行了高温加速老化实验.经6500 h的老化,样品光通量退化幅度为28% ~33%.样品的Ⅰ-V特性变化表明其串联电阻和反向漏电流不断增大,原因可归结为芯片欧姆接触的退化及芯片材料中缺陷密度的提高.样品的热特性变化显示出各结构层热阻均明显增大,这是由散热通道上各层材料的老化及焊料层出现大面积空洞引起的.分析表明,高温老化过程中芯片和封装材料的退化共同导致了LED的缓变失效.

关键词:

老化 热阻 失效分析 大功率白光LED

作者机构:

  • [ 1 ] [周舟]北京工业大学
  • [ 2 ] [冯士维]北京工业大学
  • [ 3 ] [张光沉]北京工业大学
  • [ 4 ] [郭春生]北京工业大学
  • [ 5 ] [李静婉]北京工业大学

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来源 :

发光学报

ISSN: 1000-7032

年份: 2011

期: 10

卷: 32

页码: 1046-1050

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