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张健 (张健.) | 吕长志 (吕长志.) | 张小玲 (张小玲.) | 谢雪松 (谢雪松.) | 黄月强 (黄月强.)

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摘要:

根据IGBT的基本结构和工作原理,建立了一种新的IGBT三维热模型.运用基于有限元法的分析软件ANSYS,对功率分别为0.5W,1.0W,1.5W,2.0W条件下的器件热分布进行模拟分析.结果表明,热耦合加剧了器件的自升温,且功率越大,影响越明显.另外,考虑了热导率随温度变化情况下的器件热模拟结果显示:在相同的功率(1W)条件下,器件最高温升高4.8K.由模拟结果得到的热阻与红外实测结果基本一致.

关键词:

IGBT 热模型 热耦合 自升温

作者机构:

  • [ 1 ] [张健]北京工业大学
  • [ 2 ] [吕长志]北京工业大学
  • [ 3 ] [张小玲]北京工业大学
  • [ 4 ] [谢雪松]北京工业大学
  • [ 5 ] [黄月强]北京工业大学

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来源 :

微电子学

ISSN: 1004-3365

年份: 2011

期: 1

卷: 41

页码: 139-142

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