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马卫东 (马卫东.) | 吕长志 (吕长志.) | 李志国 (李志国.) | 郭春生 (郭春生.) | 郭敏 (郭敏.) | 李颖 (李颖.)

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PKU CSCD

摘要:

提出了一种快速评价电子元器件的新方法,该方法具有快速、准确、成本低、效率高等优点.利用Arrhenius方程,能快速准确地确定元器件退化的失效敏感参数和退化机理;可对单样品求出与失效机理相关的失效激活能和寿命;通过多样品试验,可得到寿命分布、寿命加速特性和失效率等可靠性参数.以DC/DC电源变换器和高频小功率管3DG130为例,通过实验与现场数据的对比,证明了新方法的正确性和有效性.该方法适用于失效率优于10-7/h(λ<10-7/h)的高可靠性产品的定量评价.

关键词:

Arrhenius方程 恒定电应力温度斜坡法 激活能

作者机构:

  • [ 1 ] [马卫东]北京工业大学
  • [ 2 ] [吕长志]北京工业大学
  • [ 3 ] [李志国]北京工业大学
  • [ 4 ] [郭春生]北京工业大学
  • [ 5 ] [郭敏]北京工业大学
  • [ 6 ] [李颖]北京工业大学

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来源 :

微电子学

ISSN: 1004-3365

年份: 2011

期: 4

卷: 41

页码: 621-626

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