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作者:

李兴鲁 (李兴鲁.) | 查祎英 (查祎英.) | 胡冬青 (胡冬青.)

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摘要:

最近的模块研发工作已经生产出封装在SP1模组中的快速开关,1200V、13mΩ、增强型SiC JFET半桥模块。这些模块由36mm~2 SiC VJFET和23mm~2肖特基管的并联组合而成。在I_D=100A条件下,获得2.7mΩ-cm~2的比导通电阻。开关测试采用了标准的双脉冲感性负载电路,在600V、100 A、温度分别为25℃和150℃的条件下,得到了历史最低的总开关损耗——100A、150℃下为1.25mJ。本文详细介绍测试的开关性能、所采用的栅极驱动电路,以及获得这些结果推荐使用的缓冲器。

关键词:

模块 缓冲器 SiC 栅极驱动 开关损耗

作者机构:

  • [ 1 ] 北京工业大学

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来源 :

电源世界

年份: 2011

期: 12

页码: 43-46

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