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王任卿 (王任卿.) | 张万荣 (张万荣.) | 金冬月 (金冬月.) | 陈亮 (陈亮.) | 丁春宝 (丁春宝.) | 肖盈 (肖盈.) | 孙博韬 (孙博韬.) | 赵昕 (赵昕.)

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摘要:

针对传统多指SiGe HBT发射极指中心区域和器件中心区域温度较高导致热不稳定问题,提出了新型发射极指分段结构来抑制功率SiGe HBT中心区域的自热效应,提高器件温度分布均匀性.利用有限元软件ANSYS对器件进行建模和三维热模拟,研究器件温度分布的改善情况.结果表明,与传统不分段结构的器件相比,新型分段结构的多指SiGe HBT的指上的温度分布更加均匀、不同指上的温差和集电结结温明显降低,自热效应得到有效抑制,器件的热稳定性得到增强.

关键词:

SiGe HBT 分段结构 热模拟 自热效应

作者机构:

  • [ 1 ] [王任卿]北京工业大学
  • [ 2 ] [张万荣]北京工业大学
  • [ 3 ] [金冬月]北京工业大学
  • [ 4 ] [陈亮]北京工业大学
  • [ 5 ] [丁春宝]北京工业大学
  • [ 6 ] [肖盈]北京工业大学
  • [ 7 ] [孙博韬]北京工业大学
  • [ 8 ] [赵昕]北京工业大学

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来源 :

电子器件

ISSN: 1005-9490

年份: 2010

期: 6

卷: 33

页码: 680-683

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