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[期刊论文]
SOC中多片嵌入式SRAM的DFT实现方法
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多片嵌入式SRAM的测试一般由存储器内建自测试MBIST设计来完成.为了迎接多片SRAM的测试给DFT设计带来的挑战.文中以一款基于SMIC 0.13um工艺的OSD显示芯片为例,从覆盖率、面积、测试时间、功耗等方面分析了多片SRAM的MBIST设计,提出了一种可实现多片SRAM的快速高效可测试设计实现方法.
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来源 ：
电子元器件应用
ISSN： 1563-4795
年份： 2010
期： 7
卷： 12
页码： 29-31
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